Eignungsnachweise bei attributiven Prüfprozessen
Dieses Whitepaper ist eine dreiteiligen Reihe zu attributiven Prüfprozessen. Es erläutert die wichtigsten Begrifflichkeiten, Voraussetzungen und Richtlinien für den Eignungsnachweis. Erfahren Sie, warum die richtige Auswahl von Prüf- und Referenzlosen entscheidend ist.
Die Whitepaper-Reihe vermittelt Grundlagen und fortgeschrittene Methoden für attributive Prüfprozesse. Die Verfasser Dipl.-Ing. Stephan Conrad und Frank Platte erklären grundlegende Begriffe, statistische Ansätze und praxisnahe Strategien zur Bewertung von Prüfprozessen.
- Grundlagen und Begrifflichkeiten attributiver Prüfprozesse
- Voraussetzungen für den Eignungsnachweis (Prüflose und Referenzlose)
- Methoden für diskrete und diskretisierte Merkmale
- Vergleich relevanter Richtlinien (VDA Band 5, AIAG MSA, Bosch Heft 10)
- Praxisbeispiele und Expertenempfehlungen für die Umsetzung
Dieses Whitepaper besteht aus drei Teilen:
- Teil 1: Einführung in attributive Prüfprozesse – Grundlagen, Begrifflichkeiten und Voraussetzungen
- Teil 2: Eignungsnachweise für diskrete Merkmale – Methoden wie Kappa, Short Method und Effektivitätskennzahlen
- Teil 3: Eignungsnachweise für diskretisierte Merkmale – inklusive Signalerkennung, Analytischer Methode und Besonderheiten bei Kamerasystemen
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